高效全天候｜速度精度和靈活性於一身的CTP-10無源光器件測試平臺

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超強功能

CTP-10測試平臺

迅速、準確、可重複地對IL、RL或PDL進行波長掃描測量

工作波長範圍非常廣泛，可在1240 nm至 1680 nm的波長範圍內持續提供高效能

採用先進的電子技術，只需一次掃描便可以在整個動態範圍內測量IL，是測試頻譜對比度高的器件的理想工具

10插槽平臺，配備熱插拔模組，使用級聯方式連線測試輸出埠從幾個到100多個的器件

配備強大、直觀的圖形使用者介面（GUI），便於配置測試和分析測量結果

提供鐳射器共享功能，在最多8個測試臺間共享一個或多個鐳射器

擁抱未來

CTP-10測試平臺

高效全天候

CTP10是一種模組化測量平臺，可高效地全天候測試無源器件。透過它，您能夠以前所未有的動態範圍、速度和解析度執行插損（IL）、偏振相關損耗（PDL）或回損（RL）測量。CTP10是測量高速WDM網路中的新型大埠數光器件和和光子積體電路（PIC）的理想裝置。它可以結合T100S-HP系列掃頻可調諧鐳射器，在幾秒鐘內完成IL-RL或IL-PDL測量。

下一代平臺和模組

CTP10平臺可安裝多達10個熱插拔模組，包括用於光譜鑑定的各種關鍵模組（IL-RL OPM2或IL-PDL模組）、波長控制模組（SCAN SYNC和FBC模組）以及檢測模組（OPMx模組）。這些完全整合的模組可以熱插拔，從而大大減少設定時間，並提供一個非常靈活、不斷髮展的測試解決方案。

CTP10內建作業系統，可處理大量的資料。它還提供一個可擴充套件的架構，由最多8個測試站共享一個或多個可調諧鐳射器，並新增一個輔助主機，以測試100多個埠。

效能強勁

CTP10可進行非常迅速的掃頻IL RL或PDL光譜測量。它提供不折不扣的高效能，並在全速測試時達到一流的規格要求。OPMx大量程系列光檢測器能夠以100 nm/s的速率、1 pm的解析度進行掃描，測量的動態範圍超過70 dB，從而大幅提高製造和研發能力。OPMx檢測器還可以精確測量高達10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光譜特徵，使CTP10成為未來測量波長可選擇開關（WSS）或環形諧振器等下一代器件的可靠工具。

GUI強大直觀

CTP10圍繞三個關鍵原則被開發出來：整合、效能和自動化。其內建軟體提供強大、直觀的GUI，從而簡化測試配置和測量過程。CTP10可無縫地控制外接可調諧鐳射器，讓您專注於真正重要的事情：測量和分析資料。GUI集成了一整套工具以分析通帶（如WDM或WSS）和阻帶濾波器。