摻雜-擴散和離子注入

摻雜-擴散和離子注入

由於高能離子注入之後帶來的晶格損傷,會使得半導體的遷移率和壽命等引數受到較為嚴重的影響,同時,在注入時大部分的離子並不是在替位的位置,為了啟用注入離子並恢復遷移率等相關引數,必須在適當的時間和溫度下將半導體退火...

2023-01-01